Международная научно‐техническая конференция "СОВРЕМЕННАЯ ЭЛЕМЕНТНАЯ БАЗА РАДИОЭЛЕКТРОНИКИ И ЕЁ ПРИМЕНЕНИЕ"

Организаторы:

• Российское научно-техническое общество радиотехники, электроники и связи им. А.С. Попова
• Нижегородское региональное отделение РНТОРЭС им. А.С. Попова
• Национальный исследовательский нижегородский государственный университет имени Н.И.Лобачевского
• Нижегородский государственный технический университет им. Р.Е.Алексеева
• Правительство Нижегородской области

РАБОТА КОНФЕРЕНЦИИ ПЛАНИРУЕТСЯ ПО СЛЕДУЮЩИМ НАПРАВЛЕНИЯМ:

1. Электрические, оптические, структурные и химические свойства полупроводниковых материалов. Органические полупроводникии приборы на их основе. Физика полупроводниковых приборов. Приборы на квантовых эффектах. Моделирование на суперЭВМ физических процессов в материалах и компонентах электронной техники. Наноструктуры и нанотехнологии в микроэлектронике. Моделирование сложных наносистем, в том числе с использованием высокопроизводительных вычислений.

2. Радиационностойкая микроэлектроника. Космические электронные компоненты и вопросы их сертификации. Доминирующие эффекты в полупроводниковой электронной компонентной базе при воздействии импульсных и стационарных ионизирующих излучений. Математические модели электронной компонентной базы при воздействии ионизирующих излучений и внешних электромагнитных импульсов. Проектирование современных радиационностойких интегральных схем и радиационностойкой радиоэлектронной аппаратуры. Имитационное моделирование на суперЭВМ при проектировании современных радиационностойких интегральных схем.

3.Оптоэлектроника,в том числе оптоэлектронные приборы на гетероструктурах,гетероструктурная СВЧ‐электроника,волоконная оптика,фотоника, акустоэлектроника, спинтроника, фрактальные радиоэлементы,пассивнаяэлементнаябаза: устройстваиматериалы, в том числе магнитные материалы. Квантовые компьютеры.

4. Технологии получения материалов для элементной базы отечественной радиоэлектроники,а также методы их исследования: сканирующая зондовая микроскопия,рентгеноструктурный анализ и др. Оптическая,рентгеновская, электронная и ионная литография. Ионная имплантация. Моделирование на суперЭВМ технологических процессов микроэлектроники. Высокочистые материалы для микро‐ и наноэлектроники, волоконной и силовой оптики, оптоэлектроники. Методы физического материаловедения.

5. Исследование внедрения инноваций в микро‐ электронике. Проблемы импортозамещения в микроэлектронике, в том числе с применением математического моделирования. Вопросы экономики, качества, надежности, диагностики и стандартизации в производстве элементной базы отечественной радиоэлектроники.

6. Интегрированные интеллектуальные системы радиолокации, гидролокации, навигации, робототехники и связи будущего. Параллельные вычисления игрид‐технологии в перспективных радиотехнических системах:системах дистанционного зондирования Земли, ГЛОНАСС и. т.д., а также в гидроакустических и робототехнических системах. Микросистемнаятехника. Информационная безопасность.

7. Нано‐, микро‐ и радиоэлектроника в медицине и микробиологии.

8. Актуализация научно-технического и промышленного наследия в образовательной, культурологической и  туристической деятельности.

Доклады, включенные в Программу конференции, будут опубликованы в Сборнике Трудов конференции, который индексируется в РИНЦ.

По решению конференции расширенные версии лучших секционных докладов, сделанных ОЧНЫМИ участниками конференции, будут опубликованы в журналах, включённых в перечень ВАК.

Лучший доклад молодого специалиста будет поощрён.

Подробная информация: 2018-EBOR-anons-konferencii (30.10.2018)-converted-compressed 2)-converted-converted.pdf